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  • FLIM荧光寿命成像及荧光波动光谱升级模块

    美国ISS是jin有的能同时提供时域TCSPC和数字频域FastFLIM™两种荧光寿命成像技术解决方案的公司,其推出的FLIM荧光寿命成像及荧光波动光谱升级模块,可以让您现有的共聚焦显微镜拥有FLIM及FCS测试功能,可适配各种显微镜。

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    更新日期:2020-08-26
  • ELIMISSION Z118快速LIBS光谱分析系统

    ELIMISSION Z118快速LIBS光谱分析系统是目前市场上较常用的台式LISB元素分析仪。*的平台使其能够满足客户对再现性、坚固性、jing确性、准确性和灵敏度的要求。它能够直接分析固体样品(例如铁、铝、岩石等),而不用机械加工样品制备,以去除样品的氧化层(如火花-OES的情况)。LIBS光谱分析是目前为止被认为wei一可以做在线分析的元素分析技术;

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    更新日期:2020-08-03
  • ELEMISSION MISSIONLIBS激光诱导击穿光谱快速产线分析系统

    ELEMISSION MISSION激光诱导击穿光谱生产线使用几种高新技术以达到高吞吐量的化学分析过程。ELEMISSION MISSION LIBS激光诱导击穿光谱快速产线分析系统符合精度、性能、吞吐流量和分析速度的*的市场标准。产品线能够通过激光诱导击穿光谱(LIBS)实时进行快速元素分析,可用到回收,矿物筛选和土壤分析等。

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    更新日期:2020-08-03
  • HPCell光谱仪通用高压样品仓系统

    ISS HPCell 光谱仪通用高压样品仓系统包含压力样品仓,静压泵,控制系统以及数据采集模块。整套系统可直接装配于ISS公司的所有荧光光谱测试系统中,也可作为独立附件适配于其他品牌的光谱仪系统。

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    更新日期:2020-07-24
  • 数字化深能级瞬态谱仪DLTS

    半导体技术的一个重要目标是减少所有构成半导体器件中,晶体和非晶层中固有的和因生产工艺引起的缺陷。杂质、晶界、晶面等引起的缺陷会导致陷阱的产生,陷阱可以俘获自由电子和空穴。即使浓度非常低,陷阱也能ji大地改变半导体器件的性能。数字化深能级瞬态谱仪DLTS是现在一种非常通用的技术,可用于测定与陷阱相关的几乎所有参数,包括密度、热界面(热发射率)、能级和空间剖面等。

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    更新日期:2020-08-26
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