FLIM荧光寿命成像及荧光波动光谱升级模块

   市场上荧光寿命的测量方式可分为时域法和频域法，两者在本质上是相通的，测量精度相近，频域技术是时域法的傅里叶变换的延伸。时域和频域技术在各种显微寿命成像平台中都有应用，时间相关单光子计数方法（TCSPC )是zei为常见的时域技术，而新兴的数字频域技术（FastFLIM™ )则取代了传统的模拟频域技术，凭借其独恃的优势成为应用zei广的频域技术。

   美国ISS是jin有的能同时提供时域TCSPC和数字频域FastFLIM™两种荧光寿命成像技术解决方案的公司，其推出的FLIM荧光寿命成像及荧光波动光谱升级模块，可以让您现有的共聚焦显微镜拥有FLIM及FCS测试功能，可适配各种显微镜。

FastFLIM可兼容同步激光共聚焦激光器，用于FLIM/FFS。

激光共聚焦自带的混合光子探测器（Hyd）可直接跟FastFLIM连接，用户FLIM/FFS

FastFLIM模块通过USB与电脑连接，可任意选配控制工作站。

FLIM荧光寿命成像及荧光波动光谱升级模块的优势：

Ø高效快速的数据采集模式（100% duty cycle）,几乎无死亡时间;

Ø光子计数动态范围大，线性度高，数据采集率可达每秒计数6x10⁷；

Ø提供四个数据输入通道，

Ø同时对四个检测器进行并行数据采集； 

Ø灵活度高，应用范围广

Ø100ps到100ms的无间断寿命测量；

Ø可接入多种模式触发信号与脉冲激光或其它测量设备同步；

Ø可输出多种模式触发信号来调控脉冲激光重复率或调制激光或同步其他测量设备