扫描电子显微镜在高分子中的常见应用有哪些？

扫描电子显微镜（SEM）利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。

 

SEM在高分子中的常见应用：

 

（1）观察高聚物的形态和结构；

（2）观察结晶高聚物的晶态结构；

（3）研究材料共混相容性；

（4）观察高分子纳米材料结构；

（5）表征高分子材料的降解性；

（6）研究高分子材料的生物相容性；

（7）研究多孔材料表面或断面的孔特征。

 

和光学显微镜及透射电镜相比，扫描电镜具有以下特点：

 

(1)能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

(2) 样品制备过程简单，不用切成薄片。

(3) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。

(4) 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。

(5) 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。

(6) 电子束对样品的损伤与污染程度较小。