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扫描电子显微镜在高分子中的常见应用有哪些?

发布时间:2022-09-01      点击次数:75
扫描电子显微镜(SEM)利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。
 
SEM在高分子中的常见应用:
 
(1)观察高聚物的形态和结构;
(2)观察结晶高聚物的晶态结构;
(3)研究材料共混相容性;
(4)观察高分子纳米材料结构;
(5)表征高分子材料的降解性;
(6)研究高分子材料的生物相容性;
(7)研究多孔材料表面或断面的孔特征。
 
和光学显微镜及透射电镜相比,扫描电镜具有以下特点:
 
(1)能够直接观察样品表面的结构,样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(2) 样品制备过程简单,不用切成薄片。
(3) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转,因此,可以从各种角度对样品进行观察。
(4) 景深大,图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍,比透射电镜大几十倍。
(5) 图象的放大范围广,分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍,它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间,可达3nm。
(6) 电子束对样品的损伤与污染程度较小。
(7) 在观察形貌的同时,还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。 

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