JEOL SEM在金属失效分析中的优势

JEOL SEM在金属失效分析中的优势

优势

●       高空间分辨率

●       景深大

●       快速导航的相关分析

●       多种分析功能 - EDS，WDS，CL，EBSD，Micro-CT

●       大样品室用于无损观察

●       原位分析，便于处理大型不规则样品

●       原位动态测试，加热，冷却，EBIC和纳米操作

●       LV包括扩大的成像样本压力“收到”

●       高吞吐量

●       易于使用的GUI

●       拉伸试验和疲劳分析

室内阶段允许不规则形状和大尺寸样品的安全定位。

以下是一个关于金属断口失效的具体案例介绍：

当金属材料失效时，常常通过观察金属的断口来分析其失效原因，以下是一些典型的断裂案例。（二次电子像）

不同的断裂过程产生的断口会显示不同的微观形貌特征。

① 疲劳断裂：条状花样简称“辉纹”(奥氏体系列不锈钢)

② 沿晶脆性断裂 ：冰糖状断口(铸铁)

③ 韧性断裂：微孔被称之为韧窝(奥氏体系列不锈钢)

④ 扭转断裂：顺时针方向施加应力(奥氏体系列不锈钢）

以上四种特征的断口特征均可通过微观形貌的观察进行辨别。

利用SEM观察之前，先用光学显微镜在几十倍左右的放大倍数下观察宏观断口形貌，可以帮助确认感兴趣区域和抛光情况。同时利用SEM可以进行更精细的微观分析，微米级，纳米级尺寸的测量，尤其对于粗糙不平需要获得大景深的材料，容易产生阴影的断面也能轻松应对。另外， JCM-7000/ IT500可轻松编辑图像，比如将几张二次电子像拼接在一起，就可以获得一整张二次电子像图片（如上图所示），如果将光学显微镜图片拼在一起的话，入射光的方向会随着样品台的移动而改变，图片拼接在一起后会形成明显的边界（如上图中光学显微镜中间的部分所示）。